平板探測器成像質量的性能指標主要有兩個：量子勘探功率和空間分辯率，其是數字化X光機成像好壞決定性因素之一。 DQE決定了平板探測器對不一樣安排密度區別的分辯才能；而醫療器械空間分辯率決議了對安排細微布局的分辯能力。那么如何判斷數字化X光機平板探測器質量性能？

    （1）影響平板探測器DQE的要素
    直接變換平板探測器中，X線變換成電信號決議于非晶硒層發生的電子-空穴對， DQE的凹凸取決于非晶硒層發生電荷的才能?？偟膩碚f，碘化銫 ( CsI ) + a-Si(非晶 硅)+ TFT布局的直接變換平板探測器的極限DQE高于a-Se (非晶硒) 直接變換平板探測 器的極限DQE。

（普朗品牌產品--移動數字化X光機PLX5200）

    （2）影響平板探測器空間分辯率的要素
    在直接變換平板勘探器中，空間分辯率決議于單位面積內薄膜晶體管矩陣巨細。 矩陣越大薄膜晶體管個數越多，空間分辯率越高，能夠到達很高的空間分辯率。

    （3）量子探測功率于空間分辯率的聯系
    關于同一種平板探測器，在不一樣的空間分辯率時，其DQE是改變的；極限的DQE高 ，不等于在任何空間分辯率時DQE都高。DQE的計算公式如下：
    DQE=S2×MFT2/NSP×X×C
    S：信號均勻強度；MFT：調制傳遞函數；X：X線曝光強度；NPS：體系噪聲功率譜 ；C：X線量子系數

    從計算公式中能夠曉得，不一樣的MFT值中對應不一樣的DQE，這說明在不一樣的空間分辨率時有不一樣的DQE。

    直接變換平板探測器的極限DQE比較高，可是跟著空間分辯率的進步，其DQE降低得較多；而直接變換平板探測器的極限DQE不如直接變換平板探測器的極限DQE高，但在高空間分辯率時，直接變換平板探測器的DQE高。